세미나

Probe Cards for Semiconductor Wafer Test

  • 일시 2024-05-09 16:30 ~ 20:30
  • 장소 세종대학교 광개토관 205호
  • 연사 신상훈 상무님
  • 소속 윌테크놀러지(주)
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 반도체는 인간 삶에 있어서 의식주와 같이 친숙한 존재로 여겨질 만큼 많은 발전을 이루고 있으며, AI로 대표되는 미래에는 예측하기 어려울 만큼의 기술 발전이 예상된다. 반도체를 제조하거나, 제조된 반도체를 사용하여 다른 제품을 만드는 등의 반도체와 관련된 산업은 세계적으로 매우 큰 시장을 형성하고 있으며, 반도체 강국인 우리나라에서는 그 비중이 더욱 크다고 할 수 있다. 
 한편, 반도체 강국인 우리나라에서 반도체의 원리 및 제조 과정에 대한 교육의 기회는 비교적 충분하게 주어지고 있으나, 반도체의 생산 과정에서 필수적인 ‘불량검사’에 대한 내용은 거의 접하기 어렵다. 본 강의에서는 반도체 제조 공정 후 이어지는 양·불량 검사에 필수적으로 사용되는 ‘프로브카드’에 대해 소개하고자 한다.
 프로브카드는 검사 대상 반도체 소자의 종류에 따라 매우 다양한 형태로 제작되며, 최근 급속히 진화하는 반도체 기술에 대응하기 위해 프로브카드 기술 또한 많은 변화가 이루어지고 있다. 본 강의를 통해 최신 프로브 카드의 핵심기술 트렌드, 종류 및 제조 방법에 대해 자세히 설명하여, 반도체 산업의 한 분야로서 프로브 카드에 대한 이해를 돕고자 한다.